原状土真空浸泡装置以及用于SEM分析的薄片制备
专利名称 | 原状土真空浸泡装置以及用于SEM分析的薄片制备方法 | ||
专利状态 | 专利类型 | 发明专利 | |
公开号 |
201310251320.X
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申请号 | |||
专利申请日期 | 2013-06-24 | 专利授权日期 | 2015-07-15 |
发明人 | 白晓红;马富丽;韩鹏举;杨晶;王梅;何斌 | ||
权利人 | |||
专利摘要 | 本发明涉及原状土样品制备领域,具体是一种原状土真空浸泡装置以及用于SEM分析的薄片制备方法,本发明所述的原状土真空浸泡装置,结构新颖,构思巧妙,为原状土的微观结构分析提供了科学的浸泡设备,所述的用于SEM分析的薄片制备方法,应用了胶结材料入渗的方法对原状土进行处理,改进当前一般微观试样的制备方法,通过第一、第二浸泡液的浸泡、硬化,增加了土体颗粒之间的粘结性,使得原状土试块在切割、研磨和抛光过程中土体的原始结构不被破坏,扫描电镜获得的图像清晰、真实、客观,为准确和深入地分析原状土的微观结构提供了技术支持。 |
本发明涉及原状土样品制备领域,具体是一种原状土真空浸泡装置以及用于SEM分析的薄片制备方法(专利号201310251320.X),本发明所述的原状土真空浸泡装置,结构新颖,构思巧妙,为原状土的微观结构分析提供了科学的浸泡设备,所述的用于SEM分析的薄片制备方法,应用了胶结材料入渗的方法对原状土进行处理,改进当前一般微观试样的制备方法,通过第一、第二浸泡液的浸泡、硬化,增加了土体颗粒之间的粘结性,使得原状土试块在切割、研磨和抛光过程中土体的原始结构不被破坏,扫描电镜获得的图像清晰、真实、客观,为准确和深入地分析原状土的微观结构提供了技术支持。